2012年5月29日，应武汉物数所杨俊、雷皓研究员之邀，来自美国哈佛大学医学院附属McLean医院脑影像中心的杜菲博士到该所进行学术交流访问，并做题为“High Field MRS/MRI: Technical Development and Application”的报告。

杜菲教授报告中主要介绍了高场磁共振波谱(MRS)/磁共振成像(MRI)的技术发展状况及其在脑功能研究中的应用。大脑重量只占全身重量的2%，却需要消耗全身20%左右的能量。血液中的葡萄糖经过血脑屏障，在神经细胞线粒体中氧化生成水和二氧化碳，所释放的能量提供给ADP使之发生磷酸化生成ATP，ATP是神经元耗能的直接来源。利用1H-、31P-、13C-和17O-MRS技术能对大脑代谢过程中所涉及的代谢物进行直接检测，从而能够定量评价神经系统的能量代谢状态。MRI技术可用于检测特定代谢物的磁化传递率（MRT）、T2弛豫时间以及扩散张量等。高场下MRS/MRI能够提供更高的时空分辨率和灵敏度，因而能更精准地检测脑结构/功能状况。杜菲博士还以精神分裂症研究为例，介绍了高场MRS/MRI在临床研究中的应用。

杜菲教授的报告内容新颖丰富，开拓了研究生的视野。访问期间参观了武汉物数所小动物磁共振成像实验室，与该所相关研究人员及研究生进行了有益的探讨和深入的交流。

杜菲于2000年于武汉物数所获得博士学位，之后在阿拉巴马大学伯明翰分校从事博士后工作，现为McLean医院脑影像中心助理磁共振物理学家、哈佛大学神经病学讲师。